Навчально-методичні матеріали

Освітні програми та навчальні плани доступні у розділі “Структура навчального процесу

Перший (бакалаврський) рівень

Дисципліна
Спеціальність
Вступ до фаху
152, 175
Інтегровані середовища розробки програмного забезпечення 152
Прикладні програмні засоби 152
Комп’ютерне моделювання контрольно-діагностичних систем
152, 175
Бази даних, аналіз та захист інформації / Технології зберігання та обробки інформації
152
Об’єктно-орієнтоване програмування
152
Програмні засоби комп’ютерної візуалізації
152
Основи метрології
152, 175
Тепловий контроль
152
Радіаційний контроль
152
Контроль проникаючими речовинами
152
Тестування та діагностика комп’ютерізованих систем контролю 152
Основи наукових досліджень 152, 175
Теорія систем та системотехніка 152, 175
Візуальний та вимірювальний контроль
152, 175
 Фізико-механічні властивості матеріалів
152, 175
Прикладне програмування
175
Архітектура мікропроцесорних систем
175
Моделювання та статистична обробка
175
Первинні вимірювальні перетворювачі /
Сенсори контролю та вимірювання фізичних і
механічних величин
152, 175
Технології виробництва інформаційно-вимірювальної техніки
152,  175
Акустичний неруйнівний контроль
152, 175
Електромагнітний, магнітний, вихрострумовий неруйнівний контроль
175
Конструювання контрольно-діагностичних приладів
152
Проектування контрольно-діагностичних приладів
152, 175
Прогнозування виникнення дефектів
152, 175
Аналітичні прилади
152
Сертифікація та контроль якості продукції
152, 175
Сучасні методи медичної діагностики
152, 175

Другий (магістерський) рівень

Дисципліна
Спеціальність
Комп’ютерне моделювання систем контролю та діагностики 152, 175М
Метрологічне забезпечення 152М, 175М
Реєстрація та відображення інформації 152, 175М
Сучасні методи наукових досліджень при проведенні вимірювань, контролю та діагностики 175М
Наукові, аналітичні прилади і системи  152, 175М
Прилади і системи медичної діагностики  152, 175М
Системи контролю та діагностики 152, 175М
Ультразвуковий контроль матеріалів і виробів 152, 175М

Третій рівень (доктор філософії)

Дисципліна Спеціальність
Далекодіючий ультразвук в промисловості 152, 175Д
Дефектоскопія матеріалів і виробів 152, 175Д
Прилади і системи ультразвукового контролю 152, 175Д
Сучасна товщинометрія матеріалів і виробів 152, 175Д
Сучасні безконтактні методи і засоби УЗК 152, 175Д
УЗК матеріалів і виробів 152, 175Д